Solar Cell 외관 AOI 검사
얼룩, 인쇄 패턴, 이물, 크랙, 색상 검사를 동시 수행할 수 있으며, 시간당 4,500장 처리가 가능한 고속 검사 라인으로 구성되어 있습니다. 특히 AI 검사 기술을 적용하여 미세 결함까지 검출력을 극대화했습니다.
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Round Cell, 외관 검사 등
다양한 형태의
기판 검사 가능 -
Area 광학계에서
Multi 조명을 이용한
다중 검사 가능 -
딥러닝 (AI) 기술을 적용하여
Recipe free 및 결함 검출,
분류 최적화 적용 가능 -
딥러닝(AI) 기술을 이용한
DB 관리 시스템 구축 가능 -
고속 리뷰 시스템을 통해
결함 1,000 Point 이상의
리뷰 측정 가능 -
1,000 Point 이상의
결함 리뷰에 대하여
스마트 리뷰 기능으로
중요한 결함만 리뷰 측정 가능
