솔루션
커넥티드 인사이트의 솔루션은 AI 머신비전과 딥러닝 기술을 기반으로
제조 공정 전반의 품질 검사와 자동화를 구현합니다.
대면적 검사 솔루션
대면적 검사 솔루션 적용 기술
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CIS 라인스캔 카메라 기반으로 165mm~1,600mm 이상의 광폭 영역을 1회 스캔으로 전수검사
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초당 80,000라인 영상 획득, 최대 1,000mm/s 고속 스캔 시에도 안정적인 화질 확보
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최적화된 광학 시스템으로 조도 편차를 최소화하고 고품질 영상 취득
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AI 검사 알고리즘을 통해 불량 유형을 자동으로 구분·분류하여 검출 정확도 향상
대면적 검사 솔루션 적용 분야
CIS 라인스캔 카메라 기반의 대면적 검사 솔루션은 넓은 검사 영역을
고속·고해상도로 검사해야 하는 다양한 산업에 적용됩니다.
디스플레이, 2차전지, 태양광, 필름·코팅, 반도체 등 대면적 소재 및
제품의 표면 결함과 품질을 실시간으로 검사할 수 있습니다.
커넥티드 인사이트는 넓은 FOV와 고속 라인 취득 기술, 최적화된
광학·조명 시스템을 통해 대면적 검사에서 발생할 수 있는 조도 편차와 영상 품질 저하를 최소화하고 안정적인 검사 성능을 제공합니다.
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넓은 검사 폭 16mm~1600mm+ 광폭 1회 스캔
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영상 균일성 80,000 lines/sec 초고속 취득
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시스템 구성 최대 1,000mm/s 안정적 화질
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고속검사 최적화 광학 시스템 편차 최소화
직물 표면검사
배터리 분리막 표면검사
반도체 Wafer 표면 검사
리튬배터리 전극 결함검사
PCB 홀 및 표면검사
디스플레이 셀 기판 표면검사